DIP Direct Inlet Probe

Il sistema Direct Inlet Probe DIP di SIM è stato sviluppato per essere integrato ai detector di massa a singolo quadrupolo serie 5977, GC triplo quadrupolo serie 7000 e GC Q-TOF serie 7200 di Agilent.

Inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)

L’inlet probe consente di lavorare senza scollegare l’interfaccia GC/MS espandendo le potenzialità dell’intero sistema.

Caratteristiche principali:

• due diversi probe per campioni liquidi e solidi
• inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)
• gestione completa tramite software DIP per tutti i parametri del probe
• sonda di ingresso diretta per campioni a bassa volatilità e solidi
• controller esterno per valvola e sistema di pompaggio e riscaldamento / raffreddamento
• possibile automazione grazie all’autocampionatore CombiPal

Software DIP

Permette di gestire:

• Lo start dell’analisi
• L’introduzione del probe nella zona di alto vuoto, l’impostazione e il controllo delle rampe di temperatura di riscaldamento e raffreddamento del probe stesso.
• Il controllo esatto della programmata di temperatura

Caratteristiche principali:

• Acquisizione diretta di spettri di massa senza interventi sull’interfaccia GC/MS e senza alcuna operazione di vent.
• Sistema con controllo esterno di valvole e pompe per l’introduzione del campione e riduzione al minimo dell’aspirazione di aria.
• Sonda di introduzione di campioni liquidi e solidi alla zona della sorgente ad alto vuoto.
• Riscaldamento della sonda programmabile con rampe di temperatura.
• Acquisizione e elaborazione degli spettri in modalità EI o CI gestita dal software Agilent